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首頁-產(chǎn)品展示--X-Ray檢測設(shè)備-賽可(SEC)X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series
更新時間：2025-04-02
產(chǎn)品型號：
簡要描述：賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。
企業(yè)實(shí)力
Enterprise Strength
有效保修
Valid Warranty
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詳細(xì)介紹
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series簡介：
該檢測設(shè)備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導(dǎo)體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。通過大理石平臺和各個高精度驅(qū)動軸，可以更加精準(zhǔn)的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進(jìn)行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實(shí)現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設(shè)備。
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series特點(diǎn)：
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